丁丕训. 电子显微镜及其在煤田地质工作中的应用[J]. 煤田地质与勘探, 1984, 12(3): 30-34.
引用本文: 丁丕训. 电子显微镜及其在煤田地质工作中的应用[J]. 煤田地质与勘探, 1984, 12(3): 30-34.

电子显微镜及其在煤田地质工作中的应用

  • 摘要: 我分院近年来相继引进了日本电子公司的JEM—200CX透射扫描电子显微镜和JCXA—733型电子探针X射线显微分析仪。这两台大型电子光学仪器在煤田地质科学研究中起到了很好的作用。

     

/

返回文章
返回